金融界2025年1月24日消息，国家知识产权局信息显示，沉阳仪表科学研究院有限公司申请一项名为“半导体检测用紫外非均质材料滤光片”的专利，公开号 CN 119335637 A，申请日期为2024年12月。

　　专利摘要显示，本发明属于光学滤光片领域，尤其涉及一种半导体检测用紫外非均质材料滤光片，由基片及镀制其上的基础膜系构成，所述基础膜系的结构为：S k (bHaLHaLbHcL)^n A；其中：S为玻璃基底，A为空气，H为高折射率材料，L为低折射率材料，k为波长系数，a、b、c为匹配系数，通过匹配系数调整光谱通带波纹，n为膜系的总体循环个数，决定膜系的陡度和截止深度。本发明方法简单易行，可有效消除紫外非均质材料对光谱特性的影响，确保光谱谱型。

　　天眼查资料显示，沉阳仪表科学研究院有限公司，成立于2000年，位于沉阳市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本23000万人民币，实缴资本23000万人民币。通过天眼查大数据分析，沉阳仪表科学研究院有限公司共对外投资了10家企业，参与招投标项目440次，知识产权方面有商标信息4条，专利信息607条，此外企业还拥有行政许可68个。

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